基于形式验证的低概率边界条件识别方法研究

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孙逸睿1,  郝一鸣2,  谢昕洋2,  徐畅2,  苏国彬2,  赵双妹2,  罗力川2*

1. 电信科学技术研究院, 北京 100083

2. 宸芯科技股份有限公司, 北京 100083

摘     要: 随着信息快速发展,芯片设计复杂度持续攀升,内部数据通路与控制逻辑高度耦合,片上系统(SoC)集成密度急剧增加。传统验证方法学在扩展、复用及平台标准化等方面存在局限,难以在有限资源内实现对全部芯片行为高效覆盖。尽管已有研究借助大规模自动化工具,通过通用验证方法学(UVM)增强随机测试与回归仿真,仍难以在项目周期内高效覆盖可能引发致命故障的极端边界场景,致使验证存在盲区。本文提出一种动态仿真与形式验证(FPV)相结合的混合验证方法,以PWR模块的关键路径为例进行穷尽分析。首先,基于UVM构建动态仿真平台,通过随机测试对模块主要功能与常规场景进行验证,覆盖率达到94%以上;随后,采用FPV方法编写关键属性断言,对设计进行数学化分析,有效识别出UVM难以覆盖的边界条件,推导出设计中隐含的使用约束,进而揭示出潜在缺陷。实验表明,该方法高效发挥动态仿真与形式验证的互补优势,显著提升验证完备性和效率,为芯片设计可靠性提供有力保障。
关 键 词: 形式验证; 边界条件; SoC验证; 属性验证; FPV; UVM
DOI: 10.57237/j.cst.2025.04.002
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